大会开幕式由贺朝会教授掌管。西安交通大学副校长席光教授、北京微电子技能研讨所赵元富研讨员和西安交通大学客座教授、西北核技能研讨院陈伟研讨员分特别欢迎词。
会议采纳线上和线下相结合的方式举行，线人，加上安排单位的学者和学生合计300余人参会，别离来自我国、美国、意大利、俄罗斯、加拿大等国家的60余家高校及科研院所。IEEE Transactions on Nuclear Science杂志高档修改、Vanderbilt大学Dan Fleetwood教授，意大利Padova大学副校长Alessandro Paccagnella教授，美国Arizona州立大学Hugh Barnaby教授，意大利都灵理工大学Luca Sterpone教授，加拿大Saskatchewan大学Li Chen教授，俄罗斯微电子研讨所Eugene B. Yakimov研讨员，俄罗斯National Research Nuclear University Gennady I. Zebrev教授等世界闻名学者作大会特邀陈述，国内11位闻名学者作大会陈述，四个分会场共沟通技能陈述60个，并有68篇海报展现和三家公司的产品展现，内容包括电子元器件与电子体系在空间及核辐射环境中的辐照效应机理、辐射效应建模、辐照测验和抗辐照加固技能等相关方面的最新进展及效果。
本次会议由西安交通大学、西安微电子技能研讨所和我国航天科技集团有限公司抗辐射集成电路技能实验室联合主办，由西安电子科技大学、哈尔滨工业大学、扬州大学、云南师范大学、北京微电子技能研讨所、我国科学院理化技能研讨所、模拟集成电路国家级要点实验室协办。会议得到了上海概伦电子股份有限公司、中山德华芯片技能有限公司、陕西夸克自控科技有限公司的资助和《原子能科学技能》《半导体学报》、我国仿真学会、陕西核学会和新疆核学会友谊支撑，得到了国内辐射效应研讨范畴各个单位的大力支撑。
ICREED会议是世界辐射效应范畴三大世界会议之一，ICREED-2021的举行为辐射效应及相关范畴的科学家、学者、工程师、项目经理和学生供给了充沛学习和沟通的时机，对国内学者把握国内外最新研讨动态，促进我国电子元器件抗辐照技能的研讨开展，提高我国在世界辐射效应范畴的话语权具有重要意义和推进效果。
